介電常數(shù)測試儀廠家銷售
型 號GDAT-C
更新時間2024-11-19
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
報價
產(chǎn)品概述
它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
附表二,LKI-1電感組典型測試數(shù)據(jù)
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125μH
c類數(shù)顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質(zhì)損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗（tanδ）和介電常數(shù)（ε），高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等進行測試。本Q表依照國家計量檢定規(guī)程：“JJF1073-2000高頻Q表校準規(guī)范”執(zhí)行。
1 特點：
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～70MHz,測試信號。
◎ 低至20nH殘余電感，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ 數(shù)字化Q值預(yù)置，能提高批量測試的可靠性和速度。
2 主要技術(shù)指標：
2.1 測試信號頻率范圍：1kHz～70MHz，數(shù)字合成，可數(shù)字設(shè)置或連續(xù)調(diào)節(jié)，五位有效數(shù)顯。
2.2 Q值測量范圍：1～1000四位數(shù)顯，分辨率0.1Q。分100、316、999三檔，量程可自動切換。
2.3 Q值固有誤差：±5%±3% 滿刻度值。
2.4 有效電感測量范圍：0.1µH～1000mH。
2.5 電感測量誤差：≤5%±0.02µH
2.6 調(diào)諧電容特性：
2.6.1可調(diào)電容范圍：40pF～500 pF。
2.6.2 精確度：±1% 或0.5pF。
2.6.3微調(diào)電容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF
2.6.4殘余電感值：約30nH。
2.7 Q預(yù)置功能：Q預(yù)置范圍：1～1000均可。被測件達到預(yù)置值后有“GO”顯示和蜂鳴聲提示。不合格件則顯示“NO GO”。
2.8 外形尺寸及重量：415×180×170（mm）,6.5kg。
BH916 介質(zhì)損耗測試裝置（數(shù)顯）
BH916介質(zhì)損耗測試裝置與C類Q表及電感器配用，能對絕緣材料進行高頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數(shù)（ε）的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
本測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化通過公式計算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)。
1工作特性
1.1 平板電容器：
1.1.1 極片尺寸：
c類-38：Φ38mm.
c類-50：Φ50mm.
1.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：
≥8mm， ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距：
25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
≤2.5×10-4
標簽：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 介電常數(shù)測試儀 介質(zhì)損耗測試儀 介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀
