電壓擊穿試驗(yàn)儀 性能分析  

擊穿電壓高分子材料在一定電壓范圍內(nèi)是絕緣體,當(dāng)在材料上施

加的電壓逐漸增加,致使材料zui薄弱點(diǎn)失去絕緣能力而產(chǎn)生電弧材料被

破壞。此時(shí)的zui大電壓稱為擊穿電壓。我們把擊穿電壓和此時(shí)材料的厚

度比稱為介電強(qiáng)度也稱為電氣強(qiáng)度。

電壓擊穿試驗(yàn)儀

介電強(qiáng)度試樣擊穿時(shí),單位厚度承受的擊穿電壓值單位為

kv/mm或Mv/m。有時(shí)也稱為電氣強(qiáng)度或擊穿強(qiáng)度。通常介電強(qiáng)度越高,

材料的絕緣質(zhì)量越好。介電強(qiáng)度是表征了材料所能承受的zui大電場強(qiáng)

度是高聚物絕緣材料的一項(xiàng)重要指標(biāo)。

  耐壓電壓在規(guī)定的試驗(yàn)條件下,對試樣施加規(guī)定的電壓及時(shí)間,

試樣不被擊穿所能承受的zui高電壓。 

  電壓擊穿試驗(yàn)儀

 塑料的電擊穿機(jī)理介電擊穿機(jī)理可分為電擊穿、熱擊穿、化學(xué)

擊穿、放電擊穿等往往是多種機(jī)理綜合發(fā)生。

通常把不隨溫度變化的

擊穿稱為電擊穿把隨溫度變化的擊穿稱為熱擊穿。熱擊穿的外部表現(xiàn)

是介電強(qiáng)度隨溫度升高而迅速下降與施加電壓作用的長短有關(guān)與電

場畸變及周圍介質(zhì)的電性能關(guān)系不大擊穿點(diǎn)多發(fā)生在電極內(nèi)部。介質(zhì)

在電場中產(chǎn)生的熱量大于它能散發(fā)的熱量使其內(nèi)部溫度不斷升高。溫

度升高導(dǎo)致其電阻下降流經(jīng)試樣電流增大產(chǎn)生的熱量更多如此循

環(huán)不已致使介質(zhì)轉(zhuǎn)變?yōu)榱硪环N聚集態(tài)失去耐電壓能力,材料被破壞。

電擊穿的特點(diǎn)是介電強(qiáng)度與周圍介質(zhì)的電性能有關(guān)擊穿點(diǎn)常常出現(xiàn)在

電極邊緣其至電極以外。 

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 介電強(qiáng)度測試的影響因素電壓波形及電壓作用時(shí)間影響。材料在

電場作用下初始時(shí)單位時(shí)間內(nèi)材料內(nèi)部產(chǎn)生的熱量大于介質(zhì)散發(fā)出去

的熱量進(jìn)而介質(zhì)溫度升高,溫度的升高是一個(gè)由快轉(zhuǎn)慢的若升壓速

度較慢zui后發(fā)生材料擊穿熱擊穿的成分較大。作用時(shí)間的影響多因熱量

積累而使擊穿電壓值隨電壓作用時(shí)間增加而下降處于熱擊穿形式的試

樣基本上隨升壓速度的提高擊穿強(qiáng)度也增大。因此一般規(guī)定試樣擊穿電壓低于20kv時(shí)升壓速度為1.0kv/s;大于或等于20kv時(shí)升壓速度為

2.0kv/s。